A Nikon X.Tract szoftvere a CT eljáráshoz hasonló vizsgálatot tesz lehetővé rendkívül összetett, többrétegű áramköri lapok esetében. A program rendkívül gyorsan és felhasználóbarát módon segít a virtuális metszetek elkészítésében a tér minden irányában, attól függően, hogy hol szeretnénk vizsgálódni. Többrétegű tárgyak esetében az X.Tract olyan hibákat is képes feltárni, amelyeket hagyományos 2D röntgenképeken nem lennénk képesek. A rendszernek hála kis és nagyméretű NyÁK-ok is könnyedén vizsgálhatók. Az X.Tract elérhető az XT V 160-as röntgengéphez.